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應用X射線熒光分析儀 X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設備
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CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量,從質量管理到成本節約有著廣泛的應用
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